UHV-Clustertool zur Herstellung von Präzisions-Nanometer-Multischichten mittels MSD und PLD
UHV-Hybridanlage mit den Modulen
- Beschichtungskammer für Puls-Laser-Deposition (PLD)
- Kammer für Magnetron-Sputter-Deposition (MSD)
- zentrales Handlingsystem
- Probenschleuse
- Probenmagazin
Technische Daten
Allgemein
- Vakuum: p < 2·10-8 mbar
- Substrate: Ø = 150 mm, m = 5 kg
- Targets: 4 Stück in beiden Kammern
- Run-to-run-Reproduzierbarkeit der Schichtdicke: 99,8 %
PLD
- Ablationslaser: gütegeschalteter Nd:YAG mit den Wellenlängen λ = 1064 nm, 532 nm, 355 nm und Pulslängen τ = 4 ... 10 ns
MSD
- Sputtermodi: DC und RF
- typischer Arbeitsdruck: pA r ≥ 7 ·10-4 mbar
- Target-Substrat-Abstand: 50 ... 100 mm
Typische Schichteigenschaften
- Schichtdicken: 0,2 ... 500 nm
- extrem geringe Rauigkeiten im Bereich von 0,15 ... 0,3 nm
- Homogenität: 99,5 - 99,9 % über 150 mm
Ausgewählte Ergebnisse
- MSD: Mo/Si-Multischichten mit EUV-Reflexionsgraden von 70 % (Wellenlänge λ = 13,5 nm, Einfallswinkel α = 1,5 °)
- PLD: Ni/C-Multischichten mit dP = 3,25 nm und RCu-Kα = 73 %