Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik IWSProzess-Monitoring
Auf Basis bestehender optisch-spektroskopischer Messsysteme werden Angeboten werden zudem Geräteentwicklungen neuer optisch-spektroskopischer Sensoren, sowie deren Anwendungsüberführungen und Prozess-Implementierungen. Weiterhin bieten wir vielfältige Möglichkeiten zur Spektrensimulation, Datenexploration und chemometrisch-multivariaten Datenauswertung.
gefalteter Strahlengang einer kompakten Meßzelle zur Spurengasdetektion
imanto® microscopy System
Sichtbarmachen des „Unsichtbaren“: Abbildung von Gras mit Kunstraseneinsätzen (Abbildung im nahen Infrarot)
Permeation
- Bestimmung der Gaspermeationsrate von Ultrabarriermaterialien insbesondere die Wasserdampfpermeationsrate (WVTR) von Barrierefolien für OLED, organische Photovoltaik, Vakuumisolationspaneelen
- HiBarSens-Messsystem für Hochbarrierematerialien
Hyperspektrales Imaging (HSI)
- imanto®-Plattform für Geräteentwicklung (Starterkits, Messaufbauten) und Anwendungsentwicklung
- flächige, online-/inline-fähige Schichtuntersuchungen und Schichtdickenanalytik
- Ortsaufgelöste Echtzeitanalyse von Stoff- und Produktströmen (z.B. Glas, Polymere, Erze, pharmazeutische Wirkstoffe, Pulverströme) auf Basis spektroskopischen Imagings, Einsatz in Produktion und Recycling
- Echtzeit-Erkennung und Klassifikation von Verunreinigungen und Produktqualitäten
Gasanalytik
- Prozessaufklärung und Prozessüberwachung von Multigasatmosphären; Analytik von Prozess- und Abgasen z.B. von CVD-, Ätz-, Sinter- und Verbrennungsprozessen
- Spurengasanalytik (ppm- ppb) zur Qualitätskontrolle und Prozessüberwachung, insbesondere Quantifizierung von Feuchtespuren (TraceScout, ISPROM)
- Ermittlung der Erdgas-Zusammensetzung
Spektroskopische Dienstleistungen
- Optisch-spektroskopische Charakterisierung von Oberflächen und (Multi-) Schichtsystemen hinsichtlich Zusammensetzung, Schichtdicken, Verunreinigungen, Homogenität, Feuchtegehalt etc.
- Bildgebende spektroskopische Inspektionen von Oberflächen aller Art zur Bestimmung optischer und chemischer Eigenschaften (z.B. Gaslecks oder Beschichtungen)
- FT-MIR, FT-NIR, RAMAN-, UV-VIS- und ellipsometrische Untersuchungen
- spektroskopische Untersuchung übergroßer Proben (IRspecXL)
- vor-Ort Untersuchungen mit Prozess-Spektrometern
- Entwicklung, Bau und Test neuartiger Analysatorlösungen inkl. Steuerung und Regelungstechnik
- Recherche Spektrendatenbanken, Spektrensimulation, Datenexploration, multivariate (chemisch-statistische) Auswertung