Optische Spektrometer können vielseitige Informationen zu Proben und Materialien aller Art geben, so z. B. zur elektronischen Struktur, der Reflektivität...
Dünnschichten zur Oberflächenfunktionalisierung sind von großem Interesse für elektronische Anwendungen. Um die Eigenschaften der Nanometer- und Mikrometer-Schichten aufzuklären sind spektroskopische Methoden wie die Ellipsometrie als Standard etabliert. Neben den optischen Konstanten lassen...