Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik IWSRöntgen-Diffraktometer D8 Discover und D5005
Röntgen-Diffraktometer D8 Advance mit Blick auf Quelle, primäre Röntgenoptik, Goniometer, Probentisch, sekundäre Röntgenoptik und Detektor (von links nach rechts)
Messanordung mit zwei Parallelstrahloptiken, jeweils eine primär hinter der Quelle und eine sekundär vor der Detektorblende
Hersteller
- D8 Discover - Bruker AXS GmbH
- D5005 - Siemens
Technische Daten
- Röntgenröhre (Cu, Mo, Co, ...) mit 0,04 x 12 mm2
Lang-Fein Fokus oder 0,4 x 0,4 mm2 Punktfokus - Probenteller: ortsfest, Ø = 150 mm
- Szintillations-Detektor
- Strahldivergenz: Δθ < 0,02 °
- Verwendung von Ni/C - Göbelspiegeln zur:
- Monochromatisierung und Unterdrückung der
Fluoreszenzstrahlung
- Unterdrückung der Cu-Kβ-Strahlung
- Einfachen Justage und kurzen Messzeiten bei
Parallelstrahlgeometrie
Einsatz
- Röntgenreflektometrie an dünnen Schichtsystemen zur Bestimmung der Schichtdicke, Rauheit und Dichte
- Röntgendiffraktometrie an Pulvern und polykristallinen Schichten zur qualitativen und quantitativen Phasenanalyse
- Entwicklung von neuen Optiksystemen